一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法和系统

摘要

本发明涉及一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法和系统包括：a.主控计算机通过GPIB总线控制TDSCDMA信号源和频谱仪、b.主控计算机通过485总线控制TDSCDMA一体化模块和射频矩阵开关、c.主控计算机按测试流程完成TDSCDMA一体化模块主要射频指标测试、d.主控计算机根据测试情况调整搜索TDSCDMA一体化模块的最佳参数。利用本发明的自动测试方法取代了人工繁琐的测试，缩短了TDSCDMA一体化模块的生产测试时间，提高了企业的产能和效率，并且测试结果不受人为因素影响，质量稳定。

说明书

技术领域

本发明涉及一种TDSCDMA通信中的自动测试方法，特别涉及一种TDSCDMA一体化模块的生产自动化测试方法。

背景技术

TDSCDMA是国际电信联盟ITU正式发布的第三代移动通信空中接口技术规范之一。TDSCDMA一体化模块是TDSCDMA网尤其是TDSCDMA直放站的建设中大量用到的一种设备。

因为TDSCDMA技术规范相对较复杂，造成一体化模块生产测试方面也较复杂。主要体现在各种测试模式频繁切换，测试指标项增多，在TDSCDMA模式下，信号源及频谱仪的操作复杂按键次数多，所需读取的信息数据也很多，还要进行上下行倒换分别测试。如果按目前人工测试方式生产测试TDSCDMA一体化模块，将会花费测试2G模块2-3倍的时间，而且测试质量受人为因素影响。

发明内容

为了克服上述缺点，本发明提供了一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法，通过控制仪器及被测模块，完成要求的TD-SCDMA一体化模块射频指标测试，并在测试中调整搜索模块的最佳参数取代了人工繁琐的测试，缩短了TDSCDMA一体化模块的生产测试时间。该方法包括如下内容：

a、通过GPIB总线控制TDSCDMA信号源和频谱仪

b、通过485总线控制TDSCDMA一体化模块和射频矩阵开关

c、主控计算机按测试流程完成TDSCDMA一体化模块主要射频指标测试

d、根据测试情况调整搜索TDSCDMA一体化模块的最佳参数

本发明还提供了一种TDSCDMA一体化模块自动测试系统，包括主控计算机、TDSCDMA信号源、TDSCDMA频谱仪、衰减器、射频矩阵开关、被测TDSCDMA一体化模块，其中

所述主控计算机通过GPIB总线连接到所述TDSCDMA信号源和所述TDSCDMA频谱仪，对其进行控制，还通过485总线连接到所述TDSCDMA一体化模块和所述射频矩阵开关，对其进行控制；

所述被测的TDSCDMA一体化模块上行和下行到连接到射频矩阵开关；

所述射频矩阵开关的信号通过衰减器的数字衰减之后发送到TDSCDMA频谱仪；

所述被测的TDSCDMA一体化模块包括一个数字接口，可以通过485命令完成模块的设置和状态读取，同样通过485命令控制所述射频矩阵开关完成上下行测试射频通路的倒换。

附图说明

图1是根据本发明的下行测试所需的TDSCDMA帧波形；

图2是根据本发明的上行测试所需的TDSCDMA帧波形；

图3是本发明的系统模块结构图；

图4是根据本发明的控制与测试流程图。

具体实施方式

为了使本发明的方案更加清楚明白，以下结合实例对本发明进一步详细说明。本发明的具体实施例使用的TDSCDMA信号源和频谱仪分别为：Agilent4438C和Agilent4445。

图1、图2为TDSCDMA5ms帧结构。下行导频时隙DPTS和上行导频时隙UPTS为特殊时隙(另外DPTS和UPTS之间还有1个保护时隙GP未标出)。TS0～TS6为业务时隙，TS0总是分配给下行，而TS1总是分配给上行。图1为下行测试所需的TDSCDMA帧时隙配置波形。标深色的TS0、DPTS、TS4、TS5、TS6为使用的时隙。图2为上行测试所需的TDSCDMA帧时隙配置波形。标深色的UPTS、TS1、TS2、TS3为使用的时隙。TDSCDMA帧时隙配置波形由TDSCDMA信号源提供的工具软件生成文件存在信号源中，在测试时通过SCPI命令调用输出。

表1列出了测试所使用SCPI命令对应表。经过这些命令在测试中的组合使用，使TDSCDMA信号源产生所需的测试信号使TDSDMA频谱仪进入各种测量模式，完成测量读取数据。

表1

控制仪器操作SCPI命令设置信号源频率FREQ X MHz设置信号源输出电平POW X dBm设置频谱仪中心频率FREQ:CENT X Mhz调TDSCDMA信号源波形RAD:ARB:WAV“WFM1:wavename”设置频谱仪TDSCDMA测量模式INST TDSCDMA频谱仪进入时隙功率测量子模式并读取入时隙功率READ:TXP？频谱仪进入ACPR测量子模式并读取ACPR值READ:ACP？频谱仪进入SEM测量子模式并读取SEM值READ:SEM10？

图3是根据本发明的系统模块结构图。在本发明中，TDSCDMA一体化模块自动测试系统的硬件环境由主控计算机、TDSCDMA信号源、TDSCDMA频谱仪、衰减器、射频矩阵开关、被测TDSCDMA一体化模块组成。

主控计算机通过GPIB总线控制TDSCDMA信号源和频谱仪，GPIB总线协议采用IEEE 488标准。通查TDSCDMA信号源和频谱仪的使用手册可以得到各种远程控制的SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments)命令。对于TDSCDMA信号源要使用的SCPI命令除了基本的设置频率、设置功率外最重要的是调出各种用于TDSCDMA一体化模块测试的TDSCDMA波形。TDSCDMA频谱仪使用的SCPI命令主要是进入TDSCDMA模式，按测试要求在各种TDSCDMA测量子模式中切换，并读取有用的测量数据包。

主控计算机通过485总线控制TDSCDMA一体化模块和射频矩阵开关，485总线上的协议由做TDSCDMA一体化模块的厂家自定义。所述被测的TDSCDMA一体化模块上行和下行到连接到射频矩阵开关；所述射频矩阵开关的信号通过衰减器的数字衰减之后发送到TDSCDMA频谱仪；本发明的自动测试方法要求TDSCDMA一体化模块包括一个数字接口，即可以通过485命令完成模块的设置和状态读取，同样通过485命令控制射频矩阵开关完成上下行测试射频通路的倒换。

TDSCDMA一体化模块主要射频指标测试项包括：TDSCDMA时隙功率测试、同步功能测试、增益测试、数字衰减测试、ACPR测试、SEM测试。PC上运行的测试软件将按上述测试项顺序完成各项测试，为完成上述射频测试，针对各项的测试条件控制TDSCDMA信号源产生对应的测试信号波形、控制TDSCDMA频谱仪切换测量子模式读取测量数据、控制TDSCDMA一体化模块和射频矩阵开关进入相应的测试状态。

在TDSCDMA时隙功率表校准、增益测试、ACPR测试项中根据测试数据，搜索调整影响这些指标的模块参数，使测试完成后模块参数达到最优。

在进行各项测试时，需要通过485总线控制TDSCDMA一体化模块。按测试流程首先要设置模块的切换模式。在测下行时，由于有DPTS时隙信号，TDSCDMA一体化模块能自主同步，所以被设置为正常切换模式。在测上行时，没有DPTS时隙信号，TDSCDMA一体化模块不能自主同步，模块被设置为上行常开模式。在增益测试时，根据测量值与指标值间的差值设置模块的预衰值以达到增益校准的目的。在数字衰减测试时，需要设置模块的各种测试数字衰减值，然后通过频谱仪读取实际衰减值，以测量误差。

射频矩阵开关的作用是完成上下行信号通路的自动倒换。一般射频矩阵开关不带485总线控制，为应用到本发明中还需做改造：加带MCU的控制板完成485总线控制。

整个控制与测试流程如图4所示。由主控计算机按程序自动完成。首先测试下行，然后控制射频矩阵开关通路在测试上行。下行和下行测试的项目和流程一样，只是测试的输入信号不一样，以及测试的结果指标要求不一样。部分测试项会根据测试结果调整搜索TDSCDMA一体化模块的最佳参数。

测试流程依测试项按如下步骤进行：

1、TDSCDMA时隙功率测试：主要测试TDSCDMA一体化模块对TDSCDMA时隙功率检测的准确度。当准确度不符合指标要求时，将重新刷新模块内的时隙功率检测表，以达到优化。

2、同步功能测试：让信号源产生不同功率电平TDSCDMA信号，检查模块是否能同步上。

3、增益测试：测量模块的实际增益，如果发现较大偏差将调整模块内部的预衰值以达到要求的增益。

4、数字衰减测试：测量模块的数字衰减功能，检查每一档位的误差是否达到要求

5、ACPR测试：测量模块对TDSCDMA信号放大后的邻道载波功率抑制指标，此项测试在TDSCDMA频谱仪专门的ACPR测量子模式中完成，主控计算机读取已分析处理好的结果数据。

6、SEM测试：测量模块对TDSCDMA信号放大后的杂散模板指标，此项测试在TDSCDMA频谱仪专门的SEM测量子模式中完成，主控计算机读取已分析处理好的结果数据。