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用于检测由多孔板的孔中的发色团基元发出的荧光的设备

摘要

一种用于检测由容纳在多孔板的孔中的发色团基元发出的荧光的设备,所述设备包括集成在板(10)的孔(12)的透明底部中的装置,用于限制光束在孔中的穿透长度,所述光束用于激发固定在孔的底部(14)上的发色团基元(38)。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-03-24

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-09-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-18

    公开

    公开

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