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无损测量纳米颗粒热膨胀系数的方法

摘要

本发明公开了一种无损测量纳米颗粒热膨胀系数的方法,其特征在于,将纳米颗粒材料分散在基质材料中,然后用X射线吸收精细结构谱测量分散在基质材料中的最邻近的纳米颗粒原子间的距离为r,相邻原子间距离的平方相对位移σ

著录项

  • 公开/公告号CN101004395A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-07-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN200710036649.9

  • 申请日2007-01-19

  • 分类号G01N25/16;G06F19/00;

  • 代理机构上海光华专利事务所;

  • 代理人余明伟

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2023-12-17 18:54:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-14

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N25/16 公开日:20070725 申请日:20070119

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2007-09-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-25

    公开

    公开

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