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质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序

摘要

本发明提供一种能够准确分析质谱的质谱分析装置、质谱分析方法和质谱分析程序。本发明的质谱分析装置,是一种分析对多个样本进行测量得到的质谱的质谱分析装置,包括:峰值位置检测装置(14),检测质谱出现峰值的峰值位置;和重合度计算装置(15),基于在多个质谱中关于质量数具有宽度的窗所包含的峰值位置的数,计算峰值的重合度。

著录项

  • 公开/公告号CN1965232A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-05-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社山武;

    申请/专利号CN200580018687.0

  • 申请日2005-06-08

  • 分类号G01N27/62;

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人季向冈

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 18:37:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-03-10

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-07-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-05-16

    公开

    公开

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