用于测试堆叠管芯半导体器件的方法和配置

摘要

提供一种半导体器件和相关的测试方法以及结构，以能够并行(同时)测试在堆叠的多芯片半导体器件上的多个芯片。在该器件中的每个芯片被配置用于将测试结果选择性地输出到在该器件的衬底上的一个或多个唯一触点。