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非破坏性检查装置及非破坏性检查方法

摘要

一种非破坏性检查方法,能不受试料的电流路径限定而检出缺陷。在由加热源从试料的背面侧加热了该试料之后,放置给定时间,由观测部从所述试料的表面侧观测在所述试料上形成的温度分布,从而检出所述试料的缺陷的有无。

著录项

  • 公开/公告号CN1877314A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-12-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 恩益禧电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200610091216.9

  • 发明设计人 二川清;

    申请日2006-06-07

  • 分类号G01N25/72;H01L21/66;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人陆锦华

  • 地址 日本神奈川

  • 入库时间 2023-12-17 17:59:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-01-27

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-02-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-12-13

    公开

    公开

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