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一种高深宽比大孔硅微通道的制作方法

摘要

一种高深宽比大孔硅微通道的制作方法,其制作步骤为:1、电化学过程包括:(1)在衬底上表面淀积掩膜,光刻定义硅片孔的位置;(2)取出清洗,再使用氢氧化钾或四甲基氢氧化铵溶液预腐蚀处理1~3分钟,形成倒四棱台结构时,停止腐蚀;(3)电化学深刻蚀;2、结构保护:对腐蚀出的结构的内壁进行氧化或采用低压化学气相淀积法淀积一层覆盖均匀的保护层;3、背面减薄:背面开窗口,利用KOH或TMAOH腐蚀,直到与刻蚀的深槽结构相遇;4、超声波分离:停止腐蚀,预处理后,在超声波中,上下方向轻轻搅拌实施分离,制得大孔硅微通道。利用本发明所阐述的制作方法制作出的大孔硅微通道,可具有易得高深宽比的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN1837027A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东师范大学;

    申请/专利号CN200610025900.7

  • 发明设计人 王连卫;吴俊徐;

    申请日2006-04-21

  • 分类号B81C1/00;

  • 代理机构上海伯瑞杰知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴泽群

  • 地址 200062 上海市中山北路3663号

  • 入库时间 2023-12-17 17:42:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-14

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):B81C1/00 公开日:20060927 申请日:20060421

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2006-11-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-09-27

    公开

    公开

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