首页> 中国专利> 一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法

一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法

摘要

本发明提供了一种修正参与性介质影响的辐射测温方法。当受到参与性介质影响时,通过建立辐射测温正、反问题模型及辐射测温反问题迭代算法,借助介质辐射特征的相关辅助信息,实现对辐射测温仪在参与性介质影响下的实际测量温度值进行反演修正,得到被测表面温度。其特征在于:设计参与性介质影响下辐射测温问题的物理模型,建立相应的数学模型及数值求解方法,并针对测温模型定义辐射测温正、反问题,最后开发出由测温仪实测温度值反演被测表面真实值的预测-校正迭代算法。其优点在于:当被测表面受到参与性介质干扰时,可以实现对辐射测温仪的实际测量值进行反演修正,得到更为准确的被测表面温度。

著录项

  • 公开/公告号CN1584521A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN200410009174.0

  • 申请日2004-06-04

  • 分类号G01J5/00;G01J5/06;

  • 代理机构北京科大华谊专利代理事务所;

  • 代理人刘月娥

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2023-12-17 15:55:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-08-06

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-04-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-02-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号