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具有在位线方向延伸以接触存储节点的接触体的半导体器件的制造方法

摘要

一种具有在位线方向延伸以接触存储节点的接触体的半导体器件的制造方法,包括通过有选择地刻蚀覆盖位线的绝缘层形成带型开口。带型开口在栅极线的纵向延伸,以便露出第一接触焊盘和具有在位线的纵向突出的部分。方法还包括在绝缘层上形成填充带型开口和电连接到第一接触焊盘的导电层。然后构图导电层以将导电层分为在位线的纵向延伸的单个存储节点接触体。然后在存储节点接触体上形成存储节点。

著录项

  • 公开/公告号CN1519917A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200410001936.2

  • 发明设计人 朴济民;黄有商;

    申请日2004-01-16

  • 分类号H01L21/8242;

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人谢丽娜;谷惠敏

  • 地址 韩国京畿道水原市

  • 入库时间 2023-12-17 15:30:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/8242 授权公告日:20090422 终止日期:20150116 申请日:20040116

    专利权的终止

  • 2009-04-22

    授权

    授权

  • 2006-03-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-11

    公开

    公开

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