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电路板上现场可编程门阵列组件间的联机测试方法及电路

摘要

本发明提供一种用于直接在电路板上执行现场可编程门阵列组件间的联机测试的方法及其电路,该方法可依总线宽度调整电路结构,如此,安装在板上的各现场可编程门阵列组件(FPGA),彼此间的联机是否正常,就可以很容易地被检验出来,甚至总线的品质、速度都可以用这个方法检查好坏。由于FPGA具有可重复程序化的特点,因此可以在无任何额外花费下构成本发明电路。

著录项

  • 公开/公告号CN1523364A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 明基电通股份有限公司;

    申请/专利号CN03104495.6

  • 发明设计人 刘芳斌;

    申请日2003-02-18

  • 分类号G01R31/00;G01R31/02;G11C29/00;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王志森;黄小临

  • 地址 台湾省桃园县

  • 入库时间 2023-12-17 15:30:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-09-17

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2004-10-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-25

    公开

    公开

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