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微细图形形成材料、微细图形形成法及半导体装置的制法

摘要

提供超过光刻技术中的曝光波长的极限而可形成微细图形的微细图形形成材料、使用该材料的微细图形的形成方法及半导体装置的制造方法。所使用的微细图形形成材料,其特征在于,含有可溶于水或碱的树脂、和频哪醇、及水或水与水溶性有机溶剂的混合溶剂,在可供给酸的抗蚀剂图形的上面形成,在与抗蚀剂图形接触的部分通过来自该抗蚀剂图形的酸引起极性变化,形成不溶于水或碱的膜。

著录项

  • 公开/公告号CN1495525A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社瑞萨科技;

    申请/专利号CN03127424.2

  • 申请日2003-08-06

  • 分类号G03F7/038;G03F7/00;H01L21/027;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人钟守期

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 15:13:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-05-31

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2004-07-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-05-12

    公开

    公开

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