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IC卡芯片和模块芯片测试系统

摘要

一种IC卡芯片和模块芯片测试系统属于智能卡制造技术领域。主要包括:PC板、直流参数测量单元PMU、接口控制板MIF、被测试器件电源DPS板、输入高电平电压VIH、输入底电平电压VIL、输出高电平比较电压VOH、输出底电平比较电压VOL、六块通道板、模块传动系统。本发明可以对六或八个接触式IC模块或者IC卡同时进行测试,可以根据用户的要求方便的进行各种电性能的测试,采用14位D/A对各种电型号进行采样,电流的最小进度达到uA级,用系统独特的编程语言可以方便的开发各种功能测试程序。

著录项

  • 公开/公告号CN1472700A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海长丰智能卡有限公司;

    申请/专利号CN03115212.0

  • 申请日2003-01-28

  • 分类号G06K19/077;G06F11/26;

  • 代理机构上海交达专利事务所;

  • 代理人王锡麟

  • 地址 201206 上海市浦东金桥出口加工区金豫路818号

  • 入库时间 2023-12-17 15:09:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-03-08

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2004-04-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-02-04

    公开

    公开

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