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接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法

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摘要

本发明涉及接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法，其中，接触器具有接触器基片和在接触器基片上形成的多个接触电极。通过在金属引线的接合到接触器基片的一端和另一端之间弯曲金属引线而形成每一个接触电极。由切割面形成斜面。在接触电极的顶部形成因拉伸断裂而形成的断裂面。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2012-02-08

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/66 授权公告日:20050615 终止日期:20101129 申请日:20021129

专利权的终止
2010-08-25

专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L21/66 变更前: 变更后: 申请日:20021129

专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2009-01-21

专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20081219 申请日:20021129

专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
2005-06-15

授权

授权
2003-12-17

实质审查的生效

实质审查的生效
2003-10-15

公开

公开

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1. 接触器、制造此接触器的方法、以及使用此接触器的测试方法 [P] . 中国专利： CN1449009A . 2003-10-15
2. 电磁接触器、电磁接触器气体封入方法以及电磁接触器制造方法 [P] . 中国专利： CN103069531A . 2013-04-24
3. Contactor for semiconductor devices, a testing apparatus using such contactor, a testing method using such contactor, and a method of cleaning such contactor [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1011134B1 . 2013-01-23

机译：用于半导体器件的接触器，使用该接触器的测试设备，使用该接触器的测试方法以及清洁该接触器的方法
4. Contactor for semiconductor devices, a testing apparatus using such contactor, a testing method using such contactor, and a method of cleaning such contactor [P] . 美国专利： US6781395B2 . 2004-08-24

机译：用于半导体器件的接触器，使用该接触器的测试设备，使用该接触器的测试方法以及清洁该接触器的方法
5. Contactor for semiconductor devices, a testing apparatus using such contactor, a testing method using such contactor, and a method of cleaning such contactor [P] . 美国专利： US6603325B2 . 2003-08-05

机译：用于半导体器件的接触器，使用该接触器的测试设备，使用该接触器的测试方法以及清洁该接触器的方法