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形成具有低应力无侵蚀区的浅沟渠隔离侧壁氧化层的方法

摘要

本发明揭示一种形成具有低应力无侵蚀区的浅沟渠隔离侧壁氧化层的方法。本发明利用氧与氢氧根进行一原位蒸汽发生制程以在浅沟渠隔离中形成一侧壁氧化层。以本发明的方法形成的侧壁氧化层具有低应力、不会有侵蚀区的现象且反应时间也远比传统热氧化制程短。

著录项

  • 公开/公告号CN1450622A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 旺宏电子股份有限公司;

    申请/专利号CN02106095.9

  • 发明设计人 许淑雅;

    申请日2002-04-10

  • 分类号H01L21/76;

  • 代理机构上海专利商标事务所;

  • 代理人任永武

  • 地址 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行路16号

  • 入库时间 2023-12-17 14:57:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2005-09-07

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2003-12-31

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-10-22

    公开

    公开

  • 2002-07-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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