测量动态逻辑电路中设置测试的方法和装置

摘要

一种测量具有预充电器件和输出器件的动态逻辑电路的逻辑分区中的建立时间,消除包括绝缘体基外延硅场效应晶体管的动态逻辑电路中寄生双极放电的有害效应的方法和装置。该方法确定了从所述逻辑分区到所述预充电器件的控制输入的时钟信号的第一时间延迟,以及从所述逻辑分区到所述输出器件的控制输入的逻辑信号的第二时间延迟。根据所述第一和第二时间延迟确定建立时间。在建立时间期间,预充电器件保持激活,以防止寄生双极放电。