基于统计模型最差情况的建模方法

摘要

本发明提出一种半导体设计仿真领域中基于统计模型的最差情况建模方法，包括下列步骤：测试器件的特性建立被模拟器件的标准模型；收集工艺线的器件的统计信息建立Monte Carlo的模型；在仿真器中作Monte Carlo仿真，记录下每次仿真的器件特性和模型参数值从而得到器件特性和模型参数值的查表文件；应用查表的方法并联系实际工艺线的器件特性的统计信息，查表得到所需的模型参数卡并应用到最差情况仿真中。本发明提出的基于统计模型的最差情况建模方法，所得到的模型卡系列相比传统的Monte Carlo模型为工艺生产线中真实的最差情况，在电路的仿真中能够精确的判断电路工艺线波动的容忍度，并且相对Monte Carlo的仿真方法仿真的过程因为不需要做重复计算所以耗时更短，效率更高。