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显微结构及该结构的制造方法

摘要

一种半导体制造方法,包括:在基片表面形成垂直延伸柱以提供第一结构;在其表面沉积流动性的牺牲材料,其从柱的顶表面和侧壁流出至基片表面的相邻部分以提供第二结构;在第二结构表面沉积非牺牲材料,其与第二结构的表面形貌一致,非牺牲材料覆盖牺牲材料以及柱的侧壁和顶表面;选择性地去除牺牲材料而保留非牺牲材料,以形成具有水平组件的第三结构,且水平组件由柱的一个较低的部分支承于基片表面之上某个预定的距离处。

著录项

  • 公开/公告号CN1195190A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1998-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN98105197.9

  • 发明设计人 德克·托宾;彼得·韦甘德;

    申请日1998-03-31

  • 分类号H01L21/762;

  • 代理机构柳沈知识产权律师事务所;

  • 代理人陶凤波

  • 地址 联邦德国慕尼黑

  • 入库时间 2023-12-17 13:13:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-24

    专利权有效期届满 IPC(主分类):H01L21/762 授权公告日:20040121 申请日:19980331

    专利权的终止

  • 2016-02-03

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L21/762 登记生效日:20160114 变更前: 变更后: 申请日:19980331

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-03-27

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L21/762 变更前: 变更后: 登记生效日:20130301 申请日:19980331

    专利申请权、专利权的转移

  • 2004-01-21

    授权

    授权

  • 2000-06-21

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1998-10-07

    公开

    公开

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