减少光盘数据记录/重现装置的引导时间的方法

摘要

一种利用能从多种光盘上重现数据的光盘记录/重现装置来快速实现数据重现的方法。其主要特点是：该装置初始化后，在向光盘匀速垂直移动拾取器的过程中获取光盘上的聚焦错误最小点并根据此时计时器的数值和拾取器垂直移动的速度值来测定光盘的厚度；再匀速水平移动拾到器以获取寻道错误最小点并由水平移动的速度值和寻道错误最小点间的周期测定轨道间距；然后根据测定的光盘厚度和轨道间距判定光盘的类型。

说明书

本发明涉及一种记录/重现装置，特别是有关一种减少能从多种盘体(multidisk)上重现数据的光盘记录/重现装置的引导时间(lead in time)的方法。

本申请关于减少光盘记录/重现装置的引导时间的方法的基础是南朝鲜第24308/1995号申请，在此提出以供参考。

大多数光盘记录/重现装置采用的是高密度盘(CD)，例如CD-I、CD-G和CD-ROM(只读存储器)。这些高密度盘在它们物理结构上是一样的，但在逻辑结构上是不同的。光盘记录/重现装置的一个伺服系统，在初始伺服控制过程中，工作于相应该盘物理结构的位置控制条件(比如轨道槽(tracking gain)和聚焦槽(focusing gain)下。所述光盘记录/再现装置通过一拾取元件(pickup device)读取所需的数据，并借此来区别光盘数据可否重现和该盘的类型。从该光盘读出的数据是目录表(TOC)信息(在CD-ROM或CD-I情况下，是卷信息(volume information))，其功能是区别相应盘的逻辑结构。当该盘的逻辑结构和重现可能性确定下来，此盘就进入了重现准备完成状态。所谓引导时间是指从插入光盘到重现准备完成状态的时间，这一过程大约10秒。

随着光盘记录/重现技术的发展和其应用领域的扩大，出现了与高密度盘格式不同的各种盘。它们可根据其物理结构分类为高密度盘、低密度盘、各种厚度的盘等等。

这些盘类型的区别方法不能仅根据其逻辑结构。如果要这样做，引导时间会延长至普通引导时间的两至三倍。

尽管存在如上所述的不同类型的存储盘(本发明指多种盘)，但是，已出现了能从存储盘上重现数据的光盘记录/重现装置。一般地说，设计这些装置是为了从两种或更多种存储盘上重现数据。对这些装置而言，最重要的是以快速方式区别存储盘的类型。

因而，本发明的目的在于提供一种改进的方法，以一种能从多种盘上重现数据的光盘记录/重现装置来快速实现光盘上的数据重现。

本发明的另一个目的是提供一种减少能从多种盘上重现数据的光盘记录/重现装置的引导时间的方法。

根据本发明的一个方面，提供了一种利用从多种盘重现数据的光盘记录/重现装置来区别存储盘类型的方法。该方法由下述步骤组成：打开拾取元件的激光器，设置拾取器的初始位置；起动计时器，取得光盘的聚焦误差最小点，同时垂直地从初始位置至光盘匀速移动拾取器；由取得聚焦误差最小点时刻的计时器的值和拾取器垂直移动过程中的均匀速度值来测定光盘的厚度；当取得聚焦误差最小点时刻匀速水平移动拾取器时，取得在光盘的轨道之间的各寻道误差最小点；根据寻道误差最小点间的时间间隔和拾取器水平移动的均匀速度，来测定轨道间的间距；根据测定的光盘厚度轨道间的间距来区别存储盘的类型。

参照下述的详细说明和附图可进一步理解本发明，从而使对本发明的完整评价和其具有的优点更为清楚。图中相同的参考符号表示相同或类似的部件。附图包括：

图1是根据本发明实施的光盘记录/重现装置一种结构的框图，该装置能从多种存储盘上重现数据；

图2是测定有储盘厚度时产生的波形图；

图3是测定盘上轨道间隔时产生的波形图；

图4是本发明存储类型区别过程的流程图。

现在参考附图1，该附图示出了一种说明实施本发明的光盘记录/重现装置的结构的方框图。

多种存储盘的分类是根据下列物理结构数值进行的。第一，高密度盘(通常称为CD)的轨道密度为1.6μm，最小凹坑大小为1μm，反射层和保护层的厚度为1.2mm。第二，高清晰度-1(通常称为HD-1)具有比现有光盘更高的轨道和凹坑密度，即：轨道间的间隔的减小和1.2mm的厚度。第三，高清晰度-2(通常称为HD-2)具有比现有光盘更高的轨道和凹坑密度，即：轨道间的间隔的减小，采用的方法同HD-1，和0.6mm的厚度。

能从多种存储盘上重现数据的光盘记录/重现装置通常应用于CD与HD-1或CD与HD-2。虽然，HD-1和HD-2尚未被广泛使用。

再回过来参考图1，标号2为光盘，标号4为用于驱动光盘2旋转的主轴马达(spindle motor)。标号6是光学拾取元件而标号8表示一波形整形器，它将通过光拾取器从光盘上读出的射频信号转换成数字信号，并进行同步时钟检测和数字信号的噪声的消除，而且将数字信号流传送至一调制和错误校正装置10。该调制和错误校正装置10根据存储盘数据记录的编码方法对从波形整形器8输出的数字流进行调制和纠错，并给一锁相环(PLL)提取一数据同步采样信号。一伺服驱动器12执行与伺服控制有关的所有控制操作如光盘2的转动控制、聚焦和寻道控制、主轴马达的控制等。系统控制器14控制伺服控制器12以进行聚焦和寻道控制、从伺服驱动器12读出数据、控制调制和纠错装置10和处理从该调制和纠错装置10和伺服驱动器12读出的数据并借此将该数据传送给主机(host)。

为了快速完成上述图1装置中的数据重现，很明显应降低引导时间。引导时间的减少取决于判定存储盘类型的速度。

本发明的存储盘类型区别的方法将在下面讨论，在主轴马达2驱动光盘2旋转之前，由伺服驱动器12进行聚焦操作来测定光盘2的不同厚度。下一步，在聚焦状态下，拾取器6移动来检测轨道之间的不同间隔，因而就可以判断出存储盘的类型。

参考图2，它给出了在检测光盘2的厚度时产生的波形图，下面对光盘2的厚度差别检测的过程进行详细的解释。通过测量一聚焦时间，也即拾取器的激光已聚焦在光盘2的表面上其反射光量达到最大值这一过程所用时间，可检测光盘2的厚度。聚焦操作是在伺服驱动器12向某一存储盘方向匀速移动拾取器6的过程中执行的。在聚焦操作过程中产生的聚焦错误信号形成一如图2中的(A)所示的S曲线，它由入射光和反射光量的差别引起。这里，点PP表示在其间的最大差别而一过零点ZC表示其间的最小差别。该过零点ZC表示在光盘2表面上形成了一个完好的焦点，一时间段T1表示随光盘2厚度的不同而变化的到达点ZC所需的时间。一个过零信号，如图2中的(B)所示，从过零点上发送。

然后，参考图3，下面要讨论的是光盘2上轨道之间间隔的检测。在进行聚焦操作的状态下，当伺服驱动器12向外围(或内围)匀速移动(轨道)拾取器6时，检测的寻道错误信号如图3中的(A)所示。寻道错误信号在轨道的无凹坑区(no pitch)上有最大值，而在轨道的凹坑区(pitch)上有最小值。寻道错误信号是由拾取器6拾取的，在伺服驱动器12内被整形为数字波形，并且当应用于系统控制器14时成为如图3中的(B)所示的寻道过零信号。结果是系统控制器14测量寻道过零信号的时间周期T2并供此识别了轨道之间的间隔。

参考图4所示的本发明的存储盘类型区别的过程，系统控制器14在步骤100控制伺服驱动器12来打开拾取器6的激光器，设置执行机构的初始位置并驱动计时器。然后，步骤102中，系统控制器14通过伺服驱动器12向光盘2提升拾取器6的镜头，并且通过伺服驱动器12检查聚焦过零信号。步骤104中，系统控制器检测聚焦过零点(指当聚焦过零信号发出时)。若在步骤104中检测到，则系统控制器14进行步骤106，此时测得所置计时器的值，并且判定了厚度为1.2mm或0.6mm的存储盘。存储盘厚度由拾取器提起时的均匀速度和上述计时器测得的数值计算而出。

在步骤108中，系统控制器14驱动伺服驱动器12的一滑块马达(sled motor)，在聚焦的状态下，向光盘2的外围移动拾取器6并且通过伺服驱动器12检查寻道过零信号。滑块马达，用于水平移动拾取器6，应在向光盘2的外围驱动拾取器6的过程中保持常速。

系统控制器14在步骤110检测寻道过零点(指发出寻道过信号时)。若在步骤110中检测到，系统控制器14进行步骤112，此时测量寻道过零信号的周期和判定1.6μm或0.8μm(0.7μm)轨道之间的间隔。为了获得相应的精确度，要求预定时间数值来进行寻道过零信号的周期测量。然后，系统控制器14进行步骤114，根据步骤106和112中获得的辨别数据来判定存储盘类型并且根据辨明出的存储盘类型进行伺服控制来完成存储盘的导入操作。在步骤114中，区别存储盘类型的标准数据可由下表给出：  光盘的厚度    轨道间距    存储盘类型

1.2mm        1.6μm       CD

1.2mm        0.7μm       HD-1

0.6mm        0.8μm       HD-2

正如上所述，本发明具有如下优点：1)在一很短的时间内(本发明最快可达1秒)可辨明存储盘的类型，这是由于在驱动盘之前完成了聚焦操作因而检测出存储盘的不同厚度，并且拾取器在聚焦完成的状态下水平移动来检测轨道之间的不同间隔；和2)由此以一种快速的方法减少了用于从存储盘上重现数据的引导时间。

然而虽然已说明并描述了被认为是本发明的最佳实施例方法，相应领域的技术人员应理解到可以进行不同的变化和修改，并且在不脱离本发明的范围条件下可以用等效物替换某些相应部件。再者，为使某些特殊情况适应于本发明的说明，而在不脱离本发明的中心范围的条件下还可进行许多修改。因此，应意识到本发明并不局限于所公开的具体实施例，该实施例是实施本发明的最佳模式。而本发明包含属于所附权利要求的范围的所有实施例。