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轮廓测量用接触式位移传感器

摘要

本发明涉及一种传感器。它采用反射型柱面全息衍射光栅,传感器的触针位移用干涉信号的脉冲当量来瞄述,干涉信号的脉冲当量为光栅常数的一半,它不随入射光波长的变化而变化,因此具有较短的干涉光路,有宽的动态范围,解决了任意曲面表面粗糙度测量困难,并可进一步用于形状误差、浓度及粗糙度和综合测量。本发明结构简单,成本低,易于商品化。

著录项

  • 公开/公告号CN1108384A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1995-09-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中理工大学;

    申请/专利号CN94101873.3

  • 申请日1994-03-10

  • 分类号G01D5/32;G01B11/30;G01B11/24;

  • 代理机构华中理工大学专利事务所;

  • 代理人骆如碧

  • 地址 430074 湖北省武汉市武昌珞喻路151号

  • 入库时间 2023-12-17 12:35:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2000-10-04

    专利申请的视为撤回

    专利申请的视为撤回

  • 1997-06-04

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1995-09-13

    公开

    公开

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