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一种材料表面拓扑结构分级定量分析方法及应用

摘要

本发明属于图像处理及材料表面拓扑结构分析技术领域,公开了一种材料表面拓扑结构分级定量分析方法及应用,通过图像处理技术获取扫描电镜高分辨图像中像素点的灰度值信息,通过分析图像中各个像素点的灰度特征就可以对样品的表面形貌进行多尺度的定量分析及不同尺度下的表面粗糙度分析。在本发明能快速对材料表面形貌结构进行大尺度、微米尺度和纳米尺度的分级定量统计分析,获得复杂表面每个尺度结构特征精确定量的结构信息,实现复杂结构表面的多尺度定量分析,并获得多尺度粗糙度分析结果,减少大尺度结构在常规统计分析方法中对小尺度结构的掩盖作用,从而实现复杂表面的精确定量的多尺度分析。本发明的方法适用范围广、可操作性强。

著录项

  • 公开/公告号CN111579572A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN202010371830.0

  • 发明设计人 李晓东;罗巧洁;劳炜玮;

    申请日2020-05-06

  • 分类号G01N23/2251(20180101);G01B15/04(20060101);G01B15/08(20060101);

  • 代理机构50230 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈炳萍

  • 地址 310000 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2023-12-17 11:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    公开

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