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一种一维综合孔径辐射计天线阵列排布方法

摘要

本发明属于综合孔径辐射计排布领域,具体涉及一种一维综合孔径辐射计天线阵列排布方法,包括:根据一维综合孔径辐射计天线阵列排布与其空间频域采样分布的对应关系,分别建立目标采样周期对应的天线阵列坐标序列的第一物理约束,最小天线间距的第二物理约束及其对应的连续无空洞空间频域采样的第三物理约束,以及基于连续无空洞采样长度的目标函数;联立目标函数和所有物理约束得到低周期采样的一维综合孔径辐射计天线阵列排布优化模型并求解,得到最优天线阵列排布。本发明在阵列天线最小间距不变的情况下有效降低综合孔径阵列的空间频域采样周期,以解决现有阵列排布存在空间频域采样周期大导致一维综合孔径辐射计无混叠视场范围受限的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN111597730A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202010460587.X

  • 发明设计人 郑涛;胡飞;

    申请日2020-05-26

  • 分类号G06F30/20(20200101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人尹丽媛;李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-12-17 11:36:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    公开

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