一种缺陷图像样本生成方法、装置及面板缺陷检测方法

摘要

本发明提供一种缺陷图像样本处理方法、装置以及面板缺陷检测方法。其中方法包括：在原始缺陷图像样本上提取缺陷特征区域，对其进行纹理抑制获取第一模拟缺陷图像；再从背景图像样本中提取与缺陷特征区域面积大小相等的ROI区域；提取背景纹理特征并将其叠加至第一模拟缺陷图像中获取第二模拟缺陷图像；最后对第二模拟缺陷图像和背景图像样本进行融合生成缺陷图像样本。本发明提出了一种模拟任意场景下合成缺陷图像样本的有效方法，通过背景纹理特征的提取与覆盖方法，使缺陷区域带有现有背景的纹理，像素分布与背景区域更接近，图像更自然；使得所生成的缺陷图像样本能满足深度学习模型训练要求，解决了训练样本不足的问题。