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产品尤其是食品的X射线检查的方法和装置

摘要

本发明涉及预定类型产品的X射线检查方法,该产品由第一和第二部分构成且具有不同吸收系数。X射线借助频谱分辨X射线探测器探测。X射线探测器为频谱分辨而给X射线量子分配预定数量能量通道并产生图像数据,其对于每个像素包含所选或所有能量通道的频谱值和/或一组或多组相邻能量通道的总频谱值。为将图像数据处理成总图,对各产品类型确定映射规范。每个映射规范如此构成,频谱值或总频谱值被映射到图像点的总图值。每个映射规范被如此确定,在总图中,存在不同总厚度的区域之间的总图值的平均距离大于将通过简单相加频谱值至总图点来产生的总图时的情况。或者如此选择映射规范,图像点的总图值是用于第一或第二部分的总厚度的值。

著录项

  • 公开/公告号CN111521624A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 伟博泰有限公司;

    申请/专利号CN202010370385.6

  • 申请日2020-05-05

  • 分类号G01N23/04(20180101);G01N23/083(20180101);

  • 代理机构11129 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人何志欣

  • 地址 德国凯泽斯劳滕市

  • 入库时间 2023-12-17 11:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-11

    公开

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