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公开/公告号CN111536887A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-14
原文格式PDF
申请/专利权人 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所;
申请/专利号CN202010590012.X
发明设计人 韩继博;武腾飞;张磊;李润敏;李新良;
申请日2020-06-24
分类号G01B11/14(20060101);
代理机构11639 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人邬晓楠
地址 100095 北京市海淀区温泉镇环山村
入库时间 2023-12-17 11:20:09
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-14
公开
机译: 光学频率测量系统以及确定光学频率梳的频率分量的方法
机译: 基于正交色散的单点光谱域干涉测量近红外光谱无创测量系统及方法
机译: 使用频率梳进行光谱测量的设备具有改善的光谱分辨率,减少了测量时间并且不需要色散光学组件
机译:实用的基于乙炔稳定的激光锁定光学频率梳的光学频率测量系统,约为1.5μm
机译:飞秒光学频率梳基于光谱干涉法的绝对距离测量
机译:基于光谱干涉测量的绝对距离测量使用FemtoSecond光学频率梳
机译:绝对长度测量干涉仪使用光学频率梳激光的外差信号(第6次报告) - 使用一种光学梳和三个激光二极管的节拍信号的超外差干涉仪
机译:直接频率梳状光谱用于光学频率计量和相干相互作用。
机译:用于绝对距离测量的光学频率梳的合成波长干涉法
机译:光学散射和色散斜率的快速表征 使用带频率梳的光谱干涉测量的光纤链路
机译:二极管泵浦光学参量振荡器和光学频率梳形成1.5微米