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准直光束平行度及均匀度的测量系统及测量方法

摘要

本发明公开一种准直光束平行度及均匀度的测量系统及测量方法,其中的测量方法包括:S1、将测量系统置于被测准直光束前;S2、控制测量系统沿水平方向和垂直方向进行扫描;S3、识别被测准直光束的光斑,寻找被测准直光束的有效成像区域的边缘位置,拟合出被测准直光束的成像截面区域;S4、在被测准直光束的成像截面区域内选取数据扫描点,确定路径规划;S5、遍历路径规划中的每个数据扫描点,识别被测准直光束在每个数据扫描点位置的光斑,计算光斑的图像灰度均值及图像质心坐标;S6、根据光斑的图像灰度均值及图像质心坐标计算被测准直光束的平行度与均匀度。利用本发明能够实现均匀度与平行度的同时测量,还能够测量大尺寸光束的均匀度。

著录项

  • 公开/公告号CN111487042A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010367628.0

  • 申请日2020-04-30

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01B11/26(20060101);

  • 代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹卫良

  • 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

  • 入库时间 2023-12-17 11:11:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20200430

    实质审查的生效

  • 2020-08-04

    公开

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