用于样品的光致发光测量的方法

摘要

本发明涉及一种用于样品(10)的光致发光测量的方法，该样品包括通过轮廓C连接的前表面(11)和后表面(12)，样品(10)经由该样品的后表面(12)搁置在活性基板(20)的接纳表面(21)上，样品(10)包括第一区域(13)，该第一区域(13)部分地由轮廓C界定，并且发射任何点处的强度都低于样品(10)的光致发光信号的平均强度的光致发光信号，该强度被称为第一强度，该平均强度被称为参考强度，活性基板(20)发射强度至少等于参考强度的光致发光信号，该强度被称为辅助强度，活性基板(20)包括边缘B，该边缘B与轮廓C分隔重叠距离，并且与所述轮廓C一起界定活性基板(20)的周边部分(24)。