首页> 中国专利> 用磁力计阵列追踪磁体的包括识别磁体和磁干扰的存在的阶段的方法

用磁力计阵列追踪磁体的包括识别磁体和磁干扰的存在的阶段的方法

摘要

本发明涉及一种使用包括磁力计(M

著录项

  • 公开/公告号CN111033498A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ISKN公司;

    申请/专利号CN201880050340.1

  • 申请日2018-05-29

  • 分类号

  • 代理机构北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人谢攀

  • 地址 法国圣马丁赫莱斯

  • 入库时间 2023-12-17 10:24:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/10 申请日:20180529

    实质审查的生效

  • 2020-04-17

    公开

    公开

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