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一种结合两步式ADC的快速相关多次采样方法

摘要

一种结合两步式ADC的快速相关多次采样方法,采用单斜ADC进行单次量化得到高位数字输出,采用逐次逼近比较型ADC进行重复量化得到低位数字输出;本发明由采样保持电路、SS ADC、电压存储单元、加法器、SAR ADC及累加和平均电路组成;该方法相对传统相关多次采样方法极大减少了读出所需的时钟周期数;将SS ADC和SAR ADC结合,利用面积较小但速度较慢的SS ADC进行单次的粗量化,利用面积较大但速度较快的SAR ADC进行重复细量化,既避免了只采用SAR ADC量化带来的DAC阵列面积显著增大问题,又避免了采用SS ADC进行重复量化严重拖慢读出速度的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN111385502A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学青岛海洋技术研究院;

    申请/专利号CN201811636523.X

  • 申请日2018-12-29

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 266200 山东省青岛市鳌山卫街道青岛蓝色硅谷核心区莱青路2-2号

  • 入库时间 2023-12-17 10:08:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N5/378 申请日:20181229

    实质审查的生效

  • 2020-07-07

    公开

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