利用二维选晶法制备单晶叶片在001取向优化的检测方法

摘要

本发明属于单晶叶片检测应用技术领域，具体公开了利用二维选晶法制备单晶叶片在001取向优化的检测方法，步骤1、依据二维选晶器的001方向的截面的外观方向建立空间直角坐标系；步骤2、利用一次枝晶在两个侧面的投影和单晶生长方向的夹角α和β，计算出一次枝晶的方向向量；步骤3、利用二次枝晶在水平横截面的投影与水平轴向的夹角A和B，计算出二次枝晶的方向向量；步骤4、使用线切割机切割平行于二维选晶器001方向的切面和水平于001方向的切面；步骤5、确定两个切面同一枝晶和001的角度，得到最终取向。本发明的有益效果在于：解决现有检测方法所存在的问题，提高检测效率和检测数据的精准性，通过检测结果对生产流程进行调整，提高产品品质。