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一种基于全卷积自编码器网络的无监督瑕疵检测方法

摘要

本发明公开了一种基于全卷积自编码器网络的无监督瑕疵检测方法。所述方法包括以下步骤:构建用于自编码器模型训练与测试的瑕疵图像数据库,自编码器模型包括编码器和解码器;将图像输入编码器,经过多层的全卷积网络,映射到编码空间;将编码向量输入到解码器,经过的反卷积网络,得到与原图像相近的图像;计算图像的重构误差,进行平滑处理和孤立点消除后,检测出瑕疵区域。与传统方法相比,本发明无需瑕疵样本进行模型训练,准确性更高,同时具有较好的鲁棒性。本发明的检测方案满足实时性的要求,能有效对样本进行瑕疵检出。

著录项

  • 公开/公告号CN111383209A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201911330016.8

  • 发明设计人 杨伟嘉;俞祝良;

    申请日2019-12-20

  • 分类号

  • 代理机构广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人何淑珍

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-12-17 10:03:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20191220

    实质审查的生效

  • 2020-07-07

    公开

    公开

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