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一种用于纳米压印光刻设备的空间精密定位平台制备方法

摘要

本发明公开了一种用于纳米压印光刻设备的空间精密定位平台制备方法,包括如下步骤:步骤S1,根据精密定位平台运动所需的运动自由度设计并联原型机构,运用螺旋理论计算得到该并联原型机构的输入输出映射矩阵;步骤S2,利用步骤S1获得的输入输出映射矩阵进行精密定位平台建模,得到精密定位平台的拓扑优化模型,利用拓扑优化方法得到与所述输入输出映射矩阵相一致的精密定位平台,并得到精密对准平台单元密度分布图;步骤S3,根据步骤S2中得到的精密对准定位平台密度图,提取密度值在预设阈值范围之内的得到理论定位平台,并运用三维建模技术得到可用于实际生产的精密定位平台。

著录项

  • 公开/公告号CN111339677A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州大学;

    申请/专利号CN202010172495.1

  • 申请日2020-03-12

  • 分类号

  • 代理机构广州三环专利商标代理有限公司;

  • 代理人郭浩辉

  • 地址 510006 广东省广州市番禺广州大学城外环西路230号

  • 入库时间 2023-12-17 09:55:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/20 申请日:20200312

    实质审查的生效

  • 2020-06-26

    公开

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