多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备

摘要

本发明公开了一种多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备，其中，一种多通道PID整定性能测试的方法包括获取各通道PID的参数和指令；根据各通道PID的参数和指令，对被控对象的待测量进行整定；获取各通道PID的测试结果。本发明通过构建一种多通道PID整定性能测试的系统和设备，搭建多通道PID整定性能测试环境，对比测试多通道PID的整定性能，并根据多个实际用例的测试，证明了EPID的整定性能要优于PID。