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SiC化学气相沉积装置和SiC外延晶片的制造方法

摘要

本发明涉及SiC化学气相沉积装置和SiC外延晶片的制造方法。该SiC化学气相沉积装置具有在内部构成沉积空间的炉体和位于上述沉积空间的下部且在载置面上载置SiC晶片的载置台,上述炉体在与上述载置台大致正交的上下方向上被分离为多个部件,上述多个部件具有第一部分和第二部分,上述第一部分具有向外周方向突出的突出部,上述第二部分具有供上述突出部钩挂的钩部,上述第一部分与上述第二部分通过上述钩部钩挂于上述突出部而连结。

著录项

  • 公开/公告号CN111261548A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昭和电工株式会社;

    申请/专利号CN201911188852.7

  • 发明设计人 梅田喜一;渥美广范;

    申请日2019-11-28

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人王玮

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 09:46:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20191128

    实质审查的生效

  • 2020-06-09

    公开

    公开

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