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差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法

摘要

本发明公开了一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法。待测对象带材置于第一第二透镜之间,光源发出的光束,经过第一透镜汇聚成平行光束后,再经第二透镜汇聚入射到电桥光电测量电路的光敏电阻上,经第一透镜出射的光束一部分被带材阻挡,另一部分直接入射到第二透镜,电桥光电测量电路再经过转换放大器后输出电压表征微位移,并精确求出电压与微位移的关系式。本发明将微小位移的变化利用差动光通量的方法实现转变,并通过直流电桥光电转换电路来测量差动光通量,再经过转换放大器后输出电压,准确地测量了带材微小位移,使微小位移的测量精度得到了很大提高。

著录项

  • 公开/公告号CN111238378A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN202010191246.7

  • 发明设计人 陈水桥;厉位阳;

    申请日2020-03-18

  • 分类号

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林超

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2023-12-17 09:33:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20200318

    实质审查的生效

  • 2020-06-05

    公开

    公开

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