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公开/公告号CN111238383A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-05
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉工程大学;
申请/专利号CN202010070038.1
发明设计人 洪汉玉;石教炜;章秀华;赵卿松;赵书涵;王朋;李兴珣;徐洋洋;
申请日2020-01-21
分类号
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人杨晓燕
地址 430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号
入库时间 2023-12-17 09:29:39
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-30
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20200121
实质审查的生效
2020-06-05
公开
机译: 基于光谱共焦传感器的表面缺陷测量方法
机译: 基于成像光谱仪的多层膜结构三维厚度轮廓测量方法
机译: 使用成像光谱光学系统测量多层膜结构的厚度和表面轮廓的装置和测量方法
机译:共焦拉曼光谱和共焦反射显微镜在体内测量的角质层厚度的比较
机译:透明标本厚度测量方法,具有彩色共焦显微镜
机译:对2006年3月非洲沙尘暴的调查,使用了基于地面的色谱柱结合的高光谱分辨率红外(8-13μm)和可见气溶胶光学厚度测量方法:2。矿物气溶胶混合物分析
机译:基于线性阵列光谱共焦的LED带涂层厚度的三维测量方法
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机译:非共焦耦合标准具:高分辨率双标准具调制器光谱仪的实验确认