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公开/公告号CN111052320A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-04-21
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社爱发科;
申请/专利号CN201880058001.8
发明设计人 上村隆一郎;长田大和;
申请日2018-12-06
分类号H01L21/3065(20060101);H05H1/46(20060101);
代理机构11015 北京英特普罗知识产权代理有限公司;
代理人齐永红;秦岩
地址 日本神奈川县茅崎市荻园2500番地
入库时间 2023-12-17 08:38:41
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-05-15
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/3065 申请日:20181206
实质审查的生效
2020-04-21
公开
机译: 用于半导体器件制造的反应性离子蚀刻设备和使用该设备的反应性离子蚀刻方法
机译: 用于等离子体或反应性离子蚀刻的装置以及用于蚀刻导电不良的基板的方法。
机译: 用于等离子体或反应性离子蚀刻的装置以及蚀刻导热不良的基板的方法
机译:用于能量收集装置的聚合物材料的反应性离子蚀刻
机译:用于GaAs通孔蚀刻应用的具有反应性离子蚀刻系统的新型蚀刻技术
机译:在SF_6 / O_2等离子体中的4H-SiC反应性离子蚀刻的干蚀刻损伤的电气表征
机译:用离子和反应性中性离子对等离子体蚀刻轮廓进行建模。
机译:用于MEMS谐振装置制造的Z-Cutα石英的深反应离子蚀刻
机译:基于F-,Cl-和Cl / Br的电感耦合等离子体对Y2O3薄膜的反应性离子蚀刻
机译:等离子体和离子蚀刻用于失效分析。第2部分。使用Technics Giga Etch 100-E等离子蚀刻系统对塑料封装和其他半导体器件材料进行蚀刻