用于大电流测试以及高频测试的金属接触器

摘要

本发明涉及一种用于大电流测试以及高频测试的金属接触器，包括接触器本体，接触器本体外围顺序设置止动面一、接触面一、止动面二、接触面二、止动面三和受压面，受压面、止动面一和接触面一设置于接触器本体的上端面，接触面二设置于接触器本体的下端面，止动面二和止动面三分别位于接触器本体的两侧面，受压面为内凹的圆弧形，用于放置弹性体，接触面一上设置接触点一，接触点一用于接触芯片引脚，接触面二为外凸的弧面且接触面二上设置接触点二，接触点二用于接触PCB焊盘。本发明金属接触器能有效解决芯片测试的大电流，以及突破测试频率的要求，可适用于大电流测试以及高频测试。