一种基于多目标获取函数集成并行贝叶斯优化的模拟电路优化算法

摘要

本发明属集成电路设计中模拟电路设计参数自动优化领域，具体涉及一种基于高斯过程模型(Gaussian Process)，采用并行贝叶斯优化(Batch Bayesian Optimization)算法的电路优化方法，本方法在每次迭代中，首先构建高斯过程模型，然后由高斯过程模型构建多个获取函数，并对这些获取函数进行多目标优化，得到获取函数的帕累托前沿(Pareto front)，并从帕累托前沿上选择多个进行电路仿真的点。该方法能大幅减少优化过程中电路的仿真次数，获得符合性能要求的模拟电路设计参数，同时可以利用并行优化技术加速电路优化。