基于自适应网格的光学变形测量方法及电子设备

摘要

本发明涉及一种基于自适应网格的光学变形测量方法和电子设备。其中测量方法包括：获取包含感兴趣区域的散斑图像，在感兴趣区域划分均匀网格，确定对应的系数矩阵的条件数随网格单元尺寸变化的L型曲线；以L型曲线拐点对应的尺寸作为单元尺寸下限，并以同等尺寸作为初始上限，在图像的第二区域范围划分均匀网格，该第二区域包含该感兴趣区域；以第二区域划分的均匀网格计算并更新位移场；根据更新的位移场确定感兴趣区域的应变梯度场，及根据应变梯度场确定单元尺寸上下限，通过应变梯度和单元尺寸的映射关系确定单元尺寸的分布。本发明测量方法通过自适应选定网格尺寸，减少大应变梯度位置由于形函数不匹配造成的误差及小应变梯度位置的随机误差。