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一种MEMS器件热应力隔离结构

摘要

一种MEMS器件热应力隔离结构,a、隔热结构体(1)四角分别设有一个凸起的键合面(3),隔热结构体(1)中部形成贯通的空腔(2),空腔中设有纵横交错并且贯通的散热槽(1b);b、隔热结构体(1)四角的键合面(3)通过硅硅键合工艺与MEMS器件的衬底(4)连接,隔热结构体的空腔(2)与MEMS器件中的可动结构(6)对应配合。本发明的优点在于:该热隔离结构简单、易于加工,制作完成后直接与器件层键合即可,大大提高了封装产品的可靠性和器件性能。在封装中,与直接贴片到管壳底部相比,MEMS器件底面键合热隔离结构再贴到管壳底部封装热应力可大大减小。

著录项

  • 公开/公告号CN104192790A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东光电集成器件研究所;

    申请/专利号CN201410465729.6

  • 申请日2014-09-15

  • 分类号B81B7/00;

  • 代理机构安徽省蚌埠博源专利商标事务所;

  • 代理人杨晋弘

  • 地址 233042 安徽省蚌埠市经济开发区财院路10号

  • 入库时间 2023-12-17 02:14:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):B81B7/00 申请公布日:20141210 申请日:20140915

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81B7/00 申请日:20140915

    实质审查的生效

  • 2014-12-10

    公开

    公开

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