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一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置

摘要

一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置,该装置包括进样口,电离室,离子源和原位热解装置,质量分析器,接收器,数据系统,供电系统及真空系统;进样口直接引入离子源和原位热解装置中,离子源和原位热解装置在电离室中,电离室紧靠质量分析器;接收器在质量分析器中,通过数据线与数据系统相连,在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体,质谱分辨率可达到5000,具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-08

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01J49/40 申请公布日:20141015 申请日:20130410

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-11-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/40 申请日:20130410

    实质审查的生效

  • 2014-10-15

    公开

    公开

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