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超细板条组织低合金钢有效晶粒尺寸的测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种超细板条组织低合金钢的有效晶粒尺寸的测量方法及装置,属于晶粒尺寸测量领域。该方法通过电子背散射衍射技术采集晶粒晶体学取向衍射花样;通过衍射花样测量计算给定取向差角度下的晶粒尺寸面积,根据晶粒尺寸面积确定有效晶粒尺寸。该方法原理是利用晶粒的晶体学取向精确测量晶粒的面积,从组织机理上解决了有效晶粒尺寸测量的准确性和技术难点,并排除了晶粒尺寸测量人工因素的干扰和差异,便于操作和实施。该装置包括晶粒衍射花样的mapping图获取模块、晶粒尺寸面积计算模块、有效晶粒的尺寸计算模块。该装置能够自动对超细板条组织低合金钢的有效晶粒尺寸进行测量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-14

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/203 申请公布日:20141022 申请日:20140630

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-11-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/203 申请日:20140630

    实质审查的生效

  • 2014-10-22

    公开

    公开

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