一种针对抗辐照芯片的软错误注入和验证方法

摘要

本发明涉及一种针对抗辐照芯片的软错误注入和验证方法，属于抗辐照芯片的验证技术领域，特别适用于宇航等有抗辐照要求的芯片的软错误注入和验证。该方法通过将错误注入模型与从网表中提取的寄存器列表来生成UCLI命令集，并将这些命令集与常规的验证平台并行运行，这种方法一方面不影响正常的验证流程从而节省了整个验证流程的时间使得传统验证平台开发与错误注入模型建立可以并行进行，另一方面，通过错误注入模型的参数设定灵活配置错误注入的方式从而减少了传统方法中分析代码单独设计测试用例的时间开销。本发明采用将传统的验证平台与UCLI命令集并行执行的方式，不需要对验证平台进行二次开发，有利于芯片已有验证平台的复用，减少时间开销。