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EMPT-TI-IGBT器件的结构及其制备方法

摘要

本发明提供了一种EMPT-TI-IGBT器件的结构,包括漂移区、栅极、栅氧、发射区、包围在发射区下部将发射区与漂移区隔开的基区、重掺杂区、位于漂移区下方的微穿通区、相间分布引出集电极的集电区和短路区、及位于基区与漂移区之间的载流子减速层,所述发射区和重掺杂区分别与发射极连接,所述发射区和载流子减速层分别与栅极连接,所述栅极通过栅氧与半导体区域绝缘。本发明提供的EMPT-TI-IGBT器件,有效增加了EMPT-TI-IGBT导通时漂移区的载流子浓度,从而减低了EMPT-TI-IGBT器件的导通压降。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-12

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/739 申请公布日:20140604 申请日:20130318

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-01-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/739 申请日:20130318

    实质审查的生效

  • 2014-06-04

    公开

    公开

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