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Structure for Preventing Peeling of Reaction Product, Process for Its Production and Process for the Production of a Semiconductor Device Using the Structure

机译:防止反应产物剥离的结构,其制备方法和使用该结构的半导体器件的制备方法

摘要

The peeling of a reaction product deposition film 50 is prevented, reducing the particle contamination of a material to be treated 16 by roughening the surfaces (adhesion preventing surfaces) of an outer liner 40 and inner liner 42 both made of aluminum installed as an adhesion preventing plate inside a chamber of a plasma etching device to a surface roughness within a constant range without carrying out alumite treatment.
机译:防止了反应产物沉积膜 50 的剥离,通过使外衬的表面(防止粘着的表面)变粗糙,减少了待处理材料 16 的颗粒污染。 40 和内衬 42 均由铝制成,作为防腐蚀板安装在等离子蚀刻装置腔室内,表面粗糙度保持在恒定范围内,而无需进行氧化铝膜处理。

著录项

  • 公开/公告号US2008261074A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HIROTSUGU SHISHIKURA;

    申请/专利号US20080107180

  • 发明设计人 HIROTSUGU SHISHIKURA;

    申请日2008-04-22

  • 分类号D06N7/04;C23F4/00;B24C1/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:15:41

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