首页> 中国专利> 隆起源极/漏极MOS晶体管及借助植入间隔件及外延间隔件形成所述晶体管的方法

隆起源极/漏极MOS晶体管及借助植入间隔件及外延间隔件形成所述晶体管的方法

摘要

本发明涉及一种隆起源极/漏极MOS晶体管及一种借助植入间隔件及外延间隔件形成所述晶体管的方法。以以下工艺来形成隆起源极/漏极MOS晶体管(400、540、600、740、800、940、1000、1140):在植入半导体区以形成所述晶体管(400、540、600、740、800、940、1000、1140)的重掺杂源极区(420H、510、720、820H、920、1110)及重掺杂漏极区(422H、512、722、822H、922、1112)时,利用第一侧壁间隔件(508、610/708/716、432/914、708);及在外延生长所述晶体管(400、540、600、740、800、940、1000、1140)的隆起源极区(420E、520、710、820E、910、1120)及隆起漏极区(422E、522、712、822E、912、1122)时,利用第二不同侧壁间隔件(432/514、708、508、1010/708/1116)。

著录项

  • 公开/公告号CN103915498A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德州仪器公司;

    申请/专利号CN201310733831.5

  • 申请日2013-12-26

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/08(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人路勇

  • 地址 美国德克萨斯州

  • 入库时间 2024-02-20 00:07:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20131226

    实质审查的生效

  • 2014-07-09

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号