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一种OLED器件光电特性测试系统

摘要

本发明公开了一种OLED器件光电特性测试系统,包括用于提供人机交互界面和发出指令的计算机;用于接受计算机发出的指令并输出交流脉冲控制信号及反馈方式控制信号并与多通道ADC、DAC1、DAC2进行通信的单片机;用于将从交流驱动电路采集到的模拟信号转换为数字信号并传送给单片机的多通道ADC;用于将单片机的控制信号转换为模拟信号并传送给OLED驱动与采集电路的DAC1、DAC2;用于接受交流脉冲控制信号和反馈方式控制信号输出测试结果的OLED驱动与采集电路;以及用于提供参考电压的电压参考源和用于校正的温度传感器。本发明的系统,电路系统结构合理、成本较低,通过恒压、恒流、恒亮这三个模式来测量OLED的光电特性,且具有测试速度快、精度高以及良好的可靠性等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN103760483A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201410007644.3

  • 申请日2014-01-07

  • 分类号G01R31/26;G01M11/02;

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人蔡茂略

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2024-02-19 23:28:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-10-19

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20140430 申请日:20140107

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-06-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20140107

    实质审查的生效

  • 2014-04-30

    公开

    公开

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