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一种基于光子晶体缺陷模式实现受激拉曼探测方法

摘要

一种基于光子晶体缺陷模式实现受激拉曼探测方法属于微纳技术领域,步骤如下:设计一种具有高Q值,高灵敏度和宽波长选择区间的带缺陷结构的平板光子晶体。在缺陷结构上搭建检测系统,通过改变被测环境溶液折射率调节光子晶体缺陷结构纳米谐振腔共振频率,在发生受激拉曼散射的频率上测量拉曼位移以及光强变化;利用拉曼光谱数据库进行组分分析,通过拉曼位移判断样本组成成分;通过光强变化量获得样本浓度,实现本发明的检测。平板光子晶体以及谐振腔作为诱导光源器件具有体积小、成本低、易集成和实用化的优点。具有人工可控性保证了探测的重复性、稳定性和可靠性。能够同时实现对被测样本识别和浓度检测。

著录项

  • 公开/公告号CN103487424A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310384857.3

  • 发明设计人 吴一辉;余慕欣;

    申请日2013-08-29

  • 分类号G01N21/65;

  • 代理机构长春菁华专利商标代理事务所;

  • 代理人张伟

  • 地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号

  • 入库时间 2024-02-19 21:36:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-17

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/65 申请公布日:20140101 申请日:20130829

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-02-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/65 申请日:20130829

    实质审查的生效

  • 2014-01-01

    公开

    公开

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