首页> 中国专利> 一种利用含氮的等离子体制备低阻钽和氮化钽双层阻挡层的方法

一种利用含氮的等离子体制备低阻钽和氮化钽双层阻挡层的方法

摘要

本发明属于集成电路工艺领域,具体涉及一种利用含氮的等离子体制备低阻钽和氮化钽双层阻挡层的方法。由于α-Ta更容易生长于氮含量丰富的氮化钽层之上,通过用含氮的等离子体对氮化钽层进行处理,可以显著得提升氮化钽层中的氮含量,从而可以在氮化钽层较薄的情况下生长得到低电阻率的α-Ta,以达到制备低阻钽和氮化钽双层阻挡层的目的。相比于传统的通过调整氮化钽生长过程中的工艺参数来调整氮化钽层中的氮含量,本发明所提出的通过用含氮的等离子体对氮化钽层进行处理来提升氮化钽层中的氮含量的整个过程更易操作也更容易控制。

著录项

  • 公开/公告号CN103151302A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN201310059371.2

  • 发明设计人 孙清清;杨雯;王鹏飞;张卫;周鹏;

    申请日2013-02-26

  • 分类号H01L21/768;H01L21/285;

  • 代理机构上海正旦专利代理有限公司;

  • 代理人陆飞

  • 地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号

  • 入库时间 2024-02-19 19:20:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-09

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/768 申请公布日:20130612 申请日:20130226

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20130226

    实质审查的生效

  • 2013-06-12

    公开

    公开

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