首页> 中国专利> 一种组织样品高分辨率断层光学显微成像装置

一种组织样品高分辨率断层光学显微成像装置

摘要

本发明公开了一种基于机械切削、在对组织样品进行薄切片的同时对薄切片进行显微光学成像,实现组织样品的高分辨率断层显微成像的装置,该装置包括组织样品切片模块和光学显微成像系统,切削刀具进行不透明处理。本发明在切削过程切片和组织样品的物理分离的同时进行断层成像图像采集,同时,切削刀具进行不透明处理使所述光学显微成像系统中的照明光或激发光,不能透过薄切片和刀具对刀具下方剩余组织样品进行照明或激发,消除正在切削的组织切片以外的组织样品对切片采样的干扰。可用于对组织样品进行快速高分辨率的断层显微成像。

著录项

  • 公开/公告号CN103207150A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201310093514.1

  • 申请日2013-03-21

  • 分类号G01N21/17(20060101);G01N1/06(20060101);

  • 代理机构北京市德权律师事务所;

  • 代理人周发军

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2024-02-19 18:53:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-07

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/17 申请公布日:20130717 申请日:20130321

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/17 申请日:20130321

    实质审查的生效

  • 2013-07-17

    公开

    公开

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